一、产品概述：

透射电镜样品杆清洗机是一款专为透射电子显微镜（TEM）样品准备而设计的高效清洗设备。该机采用先进的清洗技术，通过超声波和化学溶剂的结合，能够有效去除样品杆表面的有机污染物、灰尘和其他杂质，确保样品在显微观察中的清洁和高质量成像。透射电镜样品杆清洗机具有自动化控制系统，操作简单便捷，并且可根据不同样品材料和清洗需求进行参数调节。广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等领域，为研究人员提供可靠的样品处理解决方案，提高实验结果的准确性和重现性。

CIF透射电镜（TEM）样品杆清洗机采用远程离子清洗源设计，清洗快速高效，低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏。

二、设备用途/原理：

·设备用途

透射电镜样品杆清洗机主要用于清洗透射电子显微镜（TEM）样品杆，以去除其表面的有机污染物、灰尘和其他杂质，确保样品在显微观察中的清洁与高质量成像。该设备广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等研究领域，提升实验结果的准确性和重现性。

·工作原理

该设备通常采用超声波清洗和化学溶剂相结合的方式进行清洗。首先，样品杆被放置在清洗槽中，清洗液通过超声波振动产生细小气泡，这些气泡在破裂时能够有效去除样品表面的污染物。同时，清洗液中的化学成分进一步分解和溶解杂质。清洗过程能够均匀、全面地处理样品杆，确保其表面达到所需的清洁度，以提高透射电子显微镜的成像质量和分析准确性。

三、主要技术指标：

四、产品特点

1. 远程离子清洗源

2. 一机多用

3. 清洗快速高效，低轰击损伤