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PN型测试仪

型号
参数
价格区间:10万-30万 应用领域:电子
九域半导体科技(苏州)有限公司

中级会员1年 

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晶圆电阻率测试仪,硅片电阻率测试仪,涡流法低电阻率分析仪,晶锭电阻率分析仪,迁移率测试仪,少子寿命测试仪

公司成立于2021年,是一家注册在苏州、具备技术的非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体,主要攻克国外垄断技术,替代进口产品,使半导体材料测试设备国产化。

主要产品:非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪、方阻测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法高低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、涡流法电阻率探头和PN探头测试仪、迁移率(霍尔)测试仪、少子寿命测试仪,晶圆、硅片厚度测试仪、表面光电压仪JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案

凭借*的技术和丰富的产品设计经验申请各项知识产权20余项,已发展成为中国大陆少数具有一定国际竞争力的半导体专用设备提供商,产品得到众多国内外主流半导体厂商的认可,并取得良好的市场口碑。

 

 

 

详细信息

  • 导电性:n型硅片具有良好的电子导电性。它的导电性主要来源于额外添加的五价元素如磷或砷,这些元素会提供自由电子,使得n型硅片带负电荷。相反,p型硅片则通过掺入三价元素如硼或铝,形成空穴。空穴在这种材料中具有正电荷,从而导致p型硅片呈现出正电导特性。

  • 杂质掺入:n型和p型硅片的区别还在于掺杂的杂质类型和浓度。n型硅片通常通过在硅晶体中引入少量的五价元素来形成,以增加自由电子数量。这些杂质被称为施主杂质。相反,p型硅片需要引入三价元素作为受主杂质,以捕获并增加电子空穴。

  • 工作原理:n型和p型硅片的不同导致了半导体器件的工作原理差异。当n型和p型硅片通过特定方式连接时,形成了一个结构称为PN结。PN结具有整流特性,即只允许电流在一个方向上通过。这种特性使得硅片可以用于制造二极管、晶体管和其他各种半导体器件。

  • 应用领域:n型和p型硅片在不同的应用领域发挥着重要作用。n型硅片通常用于制造电子器件如晶体管和集成电路,而p型硅片则广泛应用于太阳能电池板等光电器件的制造。

     硅片厚度也是影响生产力的一个因素,因为它关系到每个硅块所生产出的硅片数量。超薄的硅片给线锯技术提出了额外的挑战,因为其生产过程要困难得多。除了硅片的机械脆性以外,如果线锯工艺没有精密控制,细微的裂纹和弯曲都会对产品良率产生负面影响。超薄硅片线锯系统必须可以对工艺线性、切割线速度和压力、以及切割冷却液进行精密控制。

PN型测试仪技术参数

重量

35kg

尺寸

460mm(长)×505mm(宽)×205mm(高)

接口

以太网口×1       DB9×1

电源线接口×1     脚踏开关×1

开关按钮×1       气源口×1

硅片要求

方片125mm×125mm,156mm×156mm

圆片(寸):4”,5”,6”,8”,12”

硅片厚度范围:50μm~1000μm

硅片电阻率范围0.1Ω·cm~20Ω·cm(电阻率范围可定制)(厚度约180μm)

数据指标

单点及多点厚度

误差  ±3.00μm

重复性  ±0.5μm

电阻率

误差  ±2%

重复性  0.5%

环境要求

温度

22℃~25℃

湿度

35%~60%RH

 

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产品参数

价格区间 10万-30万
应用领域 电子
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