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FR-ES 精简薄膜厚度测量仪
高级会员第5年
代理商岱美有限公司(Dymek Company Ltd ,下面简称岱美)成立于1989年,是一间拥有多年经验的高科技设备分销商,主要为数据存储、半导体、光通讯、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持,并与一些重要的客户建立了长期合作的关系。自1989年创立至今,岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于香港,中国台湾,中国大陆,泰国,菲律宾,马来西亚及新加坡等地区。
岱美在中国大陆地区主要销售或提供技术支持的产品:
晶圆键合机、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、光学三维轮廓仪、硅穿孔TSV量测、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、主动及被动式防震台系统、应力检测仪、电容式位移传感器等。
岱美重要合作伙伴包括有:n&k Technology ; Veeco di, Wyko, Dektak, IBE, IBD, MTI; Imago; 4D; First Nano; GatanSagitta; AXIC; Tamarack; Thermo Noran; Magnetic Recording Solutions; Schmitt; EVG; Shb; SPTS; ADE; CETR; Contrade; DeWeyl; Filmetrics - Greater China; Global Optron; Herz; Innovative Instrumentation Incorporated; LESCO; Microphysics; OSC; Palomar; PPL JPS; Strasbaugh; Tru-Si; VIC; Westbond; Diamond Innovations; Innovative Organics;nPoint;Photonic Cleaning Technology
如有需要,请联系我们,了解我们如何开始与您之间的合作,实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。
FR-ES: 精簡薄膜厚度测量特性分析系统
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚测量分析系统。 使用 FR-ES,用户可以在 370-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量。
FR-ES 機型提供出色的膜厚测量分析性能。可用于各种不同的应用,例如:薄膜厚度、折射率、颜色、透射率、反射率等等.
FR-ES 機型提供三种波长范围配置: VIS/NIR (370- 1020nm, NIR-N1 (850-1050nm), NIR (900-1700nm).
Then, there is a wide range of Accessories, such as:
§ 滤光片可阻挡某些光谱范围内的光
§ FR-Mic 提供微米級別区域进行测量
§ 手动载物台, 100x100mm或 200x200mm
§ 薄膜/比色皿支架用于吸光度/透射率和化学浓度测量的薄膜/比色皿支架
§ 积分球用于漫反射和全反射反射率测量
通过不同模块的组合设置满足任何最终用户的需求