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膜厚量测椭偏仪 QUASAR-E100系列

型号
参数
产地类别:国产 应用领域:综合
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详细信息

膜厚量测椭偏仪 QUASAR-E100系列

椭偏仪 QUASAR-E100是一款桌面式光谱椭偏膜厚仪,它为客户提供更加准确和更加稳定的厚度和折射率测量,广泛应用于科研、半导体、液晶、太阳能制造等领域,适用于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景


椭偏仪 QUASAR-E100产品的特点

 

~各种尺寸样品测量

可测量如4-12英寸的晶圆及其他各种不规则形状样品

 

~测量精度和稳定性高

相对于反射仪,QUASAR-E100可提供更高精度的测量,且可提供极薄膜的测量

 

~多参数测量

可测量材料厚度、折射率和消光系数 

 

~操作简单且功能丰富

用户无需过多培训即可轻松掌握测量流程及建立菜单,数据查看、统计和分析功能丰富

 

椭偏仪 QUASAR-E100产品的参数

 

产品型号

 Quasar E100A

 Quasar E100P

厚度测量范围

0~5um

0~5um

光源

卤素灯(380-1000nm

氙灯(193-1000nm

(option:   193~1700nm)

入射角

65

65

数据采集时间

0.6-2

0.6-2

光斑尺寸

1mm~5mm

25X60um(可做圆形光斑)

自动运动平台

Option

Option

准确度

<0.3%

<0.3%

精度★   (1σ)

0.05nm

0.01nm

 

★Si基底上对厚度小于30nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差

 

椭偏仪 QUASAR-E100定制功能

 

可根据客户需求配置不同的光源,以实现不同性能的测量

可根据客户需求搭配自动运动平台

可根据客户需求配置小光斑


椭偏仪 QUASAR-E100样品实测数据

准确性 /精度                                          

 

Accuracy(A)

ThicknessTarget

Quasar E100

18

-0.16

111

-0.58

271

0.84

623

-0.28

1152

-1.54

4506

2.30

10466

-1.04


Precision(A) 1σ

ThicknessTarget

Quasar E100

18

0.079

111

0.042

271

0.053

623

0.050

1152

0.040

4506

0.052

10466

0.0011%

 


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产品参数

产地类别 国产
应用领域 综合
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