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PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统
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北京仪光科技，专注显微形貌分析！
北京仪光科技有限公司是一家专门从事三维共聚焦白光干涉轮廓仪、台式扫描电镜/台阶仪/电镜原位分析、各进口及国产品牌的金相显微镜、体式显微镜、偏光显微镜、超景深显微镜、大型扫描电子显微镜、超薄切片机、清洁度分析仪、金相及岩相制样设备、显微相机、冷热台、阴极发光台、光学平台等各类型科研分析仪器。提供制样、显微观察、三维形貌分析和特殊应用检测等全套分析检测解决方案。
我司代理西班牙Sensofar三维共聚焦白光干涉仪、德国徕卡等进口及国产各类型光学显微镜、安徽泽攸台式扫描电镜&台阶仪&电镜原位分析、美国RMC超薄切片机/半薄切片机、德国蔡司大型扫描电镜、丹麦司特尔金相制样、英国Linkam冷热台、阴极发光台、防震平台等材料制备及微观分析仪器。我们的客户涵盖高校、科研院所、农林、医疗、石油石化、地质、文博、船舶、汽车、工业材料、电子半导体、电力、能源、检测分析等各个行业。我们致力于以开放的视野、专业的技术、优质的服务为科研和工业等用户提供专业、全面的显微形貌分析应用解决方案。
愿景：让科学研究和技术创新更便捷、更高效！
使命：为材料用户提供准确、可靠、全面的毫米级到纳米级样品制备及微观形貌分析解决方案!
详细信息
PicoFemto NI-100 SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中，使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。该系统由一个三维压电驱动的样品台和一个纳米力测量探针组成。样品安装方式灵活多样，可在三维纳米位移台的驱动下，达到超过5 mm的准确定位，定位分辨率优于100 nm，以使待测量区域准确对准力探针。
力探针同样由压电驱动，在轴向达到100 um的伸缩长度，位移分辨率优于0.25mm。由力传感器准确测量所施加的力的载荷，可测拉力和压力。并有不同的大量程的力传感器可选配，达到很好的测量效果。通过搭配电学、光学、加热等模块，PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统还可以实现包括原位力/热耦合、力/光耦合、力/电耦合、力/热/晶体取向耦合等多场耦合研究。
PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统基本技术参数表
部分国内用户
部分国外用户
