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菲希尔镀层测厚仪、X射线仪器
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详细信息
菲希尔镀层测厚仪、X射线仪器
可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析，也可以进行电解溶液含量成份分析，带有国家环保局豁免证书，无放射源设计，安全环保。主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。
菲希尔X射线测厚仪特点：
1、测量大规模生产的电镀零部件；
2、测量微小区域上的薄镀层；
3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；
4、全自动测量，如测量印刷线路板。
型号 项目 | XDLM-231 | XDLM-237 | ||
通用规格 | 设计用途 | 能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ，测量薄镀层和微小结构样品，分析合金组分 | ||
元素范围 | 从元素氯 (17) 到铀 (92)，最多可以同时测定24种元素 | |||
工作台 | 平台 | 固定式样品平台 | 马达驱动可编程X/Y平台 | |
可用样品平台 | 463mm x 500mm | 300mm x 350mm | ||
X/Y平台最大移动距离 | \ | 255mm x 235mm | ||
X/Y平台最大移动速度 | \ | ≤80mm/s | ||
X/Y平台移动重复精度 | \ | ≤0.01mm（单向） | ||
样品最大重量 | 20kg | 5kg，降低精度可达20kg | ||
样品最高高度 | 140mm | |||
电气参数 | 电原要求 | AC 220V 50HZ | ||
功耗 | 最大120W（测量头，不包括计算机） | |||
保护等级 | IP40 | |||
环境要求 | 使用温度 | 10℃-40℃ | ||
存储或运输时温度 | 0℃-50℃ | |||
空气相对湿度 | ≤95%，不结露 | |||
计算单元 | 计算机 | Windows®-PC | ||
软件 | 标准：Fischer WinFTM® BASIC 可选：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER | |||
尺寸规格 | 外部尺寸 | 570mm×760mm×650mm | ||
内部测量舱尺寸 | 460mm x 495mm x146mm | |||
重量 | 100kg | 120kg | ||
