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CIS-LIBS颗粒元素分析系统

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参数
应用领域:综合
上海西努光学科技有限公司

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西努光学创建于2003 年,主营工业显微镜及制样设备、镜片测定设备,高速摄像系统、工业内窥镜、机器视觉等工业及科研应用的检测设备及系统集成。
西努光学秉承“以光学为核心,为客户提供解决方案”的经验思路,经过16年的努力,成为众多企业、高校科研单位提供各种专业化的光学系统解决方案。并于2012 年导入SAP 管理系统,通过系统资源整合,为客户提供更优质、快捷的专业化服务。
2016 年,我们积极引进检测设备的同时导入制样等配套设备以丰富我们实验室平台,以更好的为客户提供现场体验,从微米到纳米满足客户从制样到结果分析的一站式体验服务。

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详细信息


CIS-LIBS颗粒元素分析系统:快速、精确、一键分析

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

需要多台设备配套:

仅凭放大观察并不能查明成分

需要使用多台设备或委托外部分析


需要进行预处理:

对进入分析设备内的尺寸有限制,需要破坏或切断目标物

需要进行目标物表面的导电性处理、分析设备内部的真空处理


对实验员素养要求高:

由于分析设备具有高专业性,只有少数人会操作


只有具备专业知识,才能根据检测到的元素判断物质

CIS-LIBS颗粒元素分析系统



只需一台即可完成

只需一台即可快速执行从放大观察到元素判别   要进行元素判别的人员可当场进行作业


无需预处理

对目标物尺寸没有限制,无需破坏也可直接分析

在空气中进行分析,无需进行导电性处理及真空处理


轻松进行元素判别

使用显微系统观察的同时,一键点击即可进行元素判别   根据内部数据库,瞬时推测检测物质


CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统



CIS-LIBS颗粒元素分析系统规格参数


型号

CIS- LIBS






LIBS光学模块

检测原理

激光诱导击穿光谱法

检测性质

定性及半定量

检测能力

%水平 (取决于元素)

检测环境要求

无, 分析在大气条件下进行 (无, 常温常压条件下进行)

对应元素

CU、A

SUS、 Fe、 L

C、cr 、Mg、Mn  N

T

Y、zn 、Au等常见元素



激光

激光类型

Nd :YAG (半导体泵浦)

激光波长

355nm

单脉冲能量

<100UJ

脉冲宽度

≤1 . 5ns

点规格

15um  (typ)

烧蚀深度

1 - 10um (取决于材料



光谱仪

光谱范围

200至780nm

光谱分辨率

0 . 15nm

信噪比

500


探测器

CMOS探测器


激光镜头

镜头类型

专属规格透射型镜头

镜头倍数

7X

工作距离

18mm






扫描光学模块


入射光轴

相差观察方法

奥林巴斯BX53M ,  BF明场照明

物镜

5X, 10X,20X,50X

可选


照明

大功率数字LED, 软件可控, 带记忆模式

偏光系统

偏光00与偏光90o 自动数字切换, 带记忆模式


数字成像

相机型号

DFK33UX249

相机分辨率

1920x1200  (2 . 3mp)

相机靶面


2英寸

帧速

48FPS


扫描载物台

载物台方向

XYZ三轴

行程范围

Xy轴125x75mm, z轴35mm

分辨率

0 . 1um(软件控制)

精度

<5μm

控制方式

软件自动控制+遥杆细分控制


生成报告

生成方式

自动生成

报告内容

单颗粒材质专业报告

全颗粒材质专业报告

电脑

15处理器, 16G内存, 硬盘1TB,显示器22寸

设备电源

供电方式

AC 220V50Hz

保修期

整机12个月

耐环境性

使用环境温度

+10至45

使用环境湿度

。至85%RH (无冷凝)

重量

系统

约50KG

外形尺寸

宽度490mm x高度600mm x纵深840mm


CIS-LIBS颗粒元素分析系统

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