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SENTECH SER 800 PV 光谱椭偏仪
- 型号
- SENTECH SER 800 PV
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深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。
致力于提供半导体前道制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。
公司目前已授实用新型权利 29 项，软件著作权 14 项，是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。
详细信息
1. 产品概述
SENTECH SER 800 PV光谱椭偏仪符合PERC、TOPCON、HJT和钙钛矿技术等新型太阳能电池技术的研发要求。它操作简单，具有高测量灵敏度、去偏振校正和特殊的聚光光学元件，使其成为在粗糙样品表面上进行光伏应用的理想工具。
2. 主要功能与优势
纹理化硅片
抗反射涂层和钝化层可以在纹理单晶硅片和多晶硅片上测量。
多层增透膜
SiO2 涂层/ SiNx, Al2O3 / SiNx, and SiNx1 / SiNx2, poly-Si, aSi / ITO,都可以分析。
操作简单
SENTECH SER 800 PV 光谱椭偏仪为家和初学者都提供了简单的操作。配方模式特别适用于质量控制中所需的常规应用。
3. 光伏研发的灵活性
SENTECH SER 800 PV 是分析纹理晶体和多晶硅太阳能电池上抗反射涂层和功能层的理想工具。单片薄膜（SiNx, SiO2, TiO2, Al2O3, ITO, aSi, 多晶硅和钙钛矿）和多层堆叠物（(SiNX / SiO2, SiNx1 / SiNx2, SiNx / Al2O3, …)可以测量。
该工具基于步进扫描分析仪测量模式。步进扫描分析仪模式允许将测量参数与粗糙的样品表面相匹配，而所有光学部件都处于静止状态。SENTECH SER 800 PV 的光源、光学元件和检测器经过优化，可快速准确地测量光伏应用中的折射率、吸收和薄膜厚度。此外，该工具还满足 SENresearch 光谱椭偏仪系列的所有要求。
SpectraRay/4 是 SENTECH 有的椭偏仪软件，用于 SENTECH SER 800 PV，包括两种操作模式。配方模式允许轻松执行质量控制中的常规应用。带有指导性图形用户界面的交互模式适用于研发应用和新配方的开发。
