高通量镀层分析

x荧光测厚仪 FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合最高标准。

准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A XRF镀层测厚仪能够同时测量多达四层以及基材，将全天候支持您的设施满足最高的行业电镀规范。

产品亮点

专为高通量生产而设计，来看 FT110A XRF镀层测厚仪如何支持您的质量控制。

• 强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果

• 对成品安全的无损检测

• 自动化功能提高生产力

• 分析多达四层和基材，加上电镀液

• 易于非专业操作员使用

• 测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987

• 大样品舱可容纳各种样品

• 可定制的选项以适合您的应用