白光干涉仪介绍：
NanoX-2000/3000系列、3D光学白光干涉仪建立在移相干涉测量(PSI)、白光垂直扫描干涉测量(VSI)和单色光垂直扫描干涉测量(CSI)等技术的基础上，以其纳米级测量准确度和重复性(稳定性)定量地反映出被测件的表面粗糙度、表面轮廓、台阶高度、关键部位的尺寸及其形貌特征等。广泛应用于集成电路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技术、材料、太阳能电池技术等领域。
白光干涉仪产品优势：
1、美国硅谷研发的核心技术和系统软件。
2、关键硬件采用美国、德国、日本等。
3、PI纳米移动平台及控制系统。
4、Nikon干涉物镜。
5、NI信号控制板和Labview64 控制软件。
6、TMC光学隔振台。
7、测量准确度重复性达到不错的水平(中国计量科学研究院证书)。
如有需要，请联系我们，了解我们如何开始与您之间的合作，帮您实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。 白光干涉仪使用时需要注意以下几个方面的问题：
1、环境条件：对环境光线和振动非常敏感，因此在使用时需要在低光照和无振动的环境中操作，最好在光学实验室等特殊环境中使用。
2、样品准备：在放置样品之前，需要确保样品表面干净、平整，避免杂质或污垢影响测量结果。
3、对准调节：在使用白光干涉仪进行测量之前，需要精确对准仪器并调节焦距，以确保能够获得清晰、准确的干涉图像。
4、操作注意：操作时要小心移动和调节仪器部件，避免碰撞或损坏仪器；同时注意调节干涉仪的参数和光源强度，以获得最佳的测量结果。
5、结果分析：在获得干涉图像后，需要对结果进行分析和解释，以确定样品表面的形状和质量，同时注意误差的可能来源并进行修正。
