FR-ES: 精簡薄膜厚度测量特性分析系统

FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚测量分析系统。 使用 FR-ES，用户可以在 370-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量。

FR-ES 機型提供出色的膜厚测量分析性能。可用于各种不同的应用，例如：薄膜厚度、折射率、颜色、透射率、反射率等等.

FR-ES 機型提供三种波长范围配置: VIS/NIR (370- 1020nm, NIR-N1 (850-1050nm), NIR (900-1700nm).

Then, there is a wide range of Accessories, such as:

§ 滤光片可阻挡某些光谱范围内的光

§ FR-Mic 提供微米級別区域进行测量

§ 手动载物台, 100x100mm或 200x200mm

§ 薄膜/比色皿支架用于吸光度/透射率和化学浓度测量的薄膜/比色皿支架

§ 积分球用于漫反射和全反射反射率测量

通过不同模块的组合设置满足任何最终用户的需求