N-6000纳米探针检测系统

N-6000纳米探针检测系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-08-23 11:00:20
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日立科学仪器有限公司

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产品简介

N-6000纳米探针检测系统通过直接将探针接触大规模集成电路的导通连接孔,检测单个MOS晶体管的特性。

详细介绍

N-6000纳米探针检测系统 特点

N-6000纳米探针检测系统 技术指标

项目

描述

探针单元

探针单元数量

6(zui多)

驱动方法

压电式

精调范围

5μm(X,Y轴)

粗调范围

5mm(X,Y轴)

探针头交换

气锁交换室

样品台
(DUT台)

位置检测

光学线性量规

样品尺寸

15mm x 15mm x 1mm 或更薄

行程范围

±7.5 mm(X, Y轴)

样品交换

气锁样品交换仓

探针镜台
(基础镜台)

行程范围

每个位置 ±5 mm

行程位置

检测/样品交换/探针大致对中齐/探针交换

电子光学系统

电子枪

冷场电子发射源

加速电压

0.5 kV - 5 kV(EBAC模式(*):zui大30 kV)

图像位移

±100μm 或更长(2 kV,WD=15 mm)

EBAC放大器(*)

电流放大器,差分放器

图像显示

扫描电子显微镜/ EBAC(*)(单一/平行/覆盖),上面和侧面CCD摄像头

真空系统

自动系统

显示器

液晶显示器


 

外形尺寸和重量

项目

(W)x(D)x(H)

重量

镜筒单元1,190 x 1,377 x 1,605mm780kg
显示单元1,000 x 960 x 1,200mm205kg
EBAC单元(*)600 x 1,000 x 1,760mm150kg

安装条件

项目

描述

室温15~25deg.
湿度60% RH(相对湿度)或更低
电源单相 AC100V±10%, 5kVA
接地D级(100ohm 或更小)


(*):选购件
 

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