V-Sorb 4800P4站式比表面积及孔隙度（最可几孔径）测试仪测试方法：氮吸附静态容量法；
主机功能：吸附及脱附等温线测定；样品真密度测定；BJH(Barrett-Joyner-Halenda)介孔分析-总孔体积及孔径分布分析；t-plot图法微孔分析;HK(Horvath-Kawazoe)法微孔分析;MP法微孔分析;SF(Saito-Foley)法微孔分析;Langmuir法比表面积测定;DR(Dubinin-Radushkevich)及DA(Dubinin-Astakhov)填充理论;CO2冰水法微孔分析;BET(Brunauer-Emmett-Teller)法比表面积测定（单点及多点）；t－plot图法外比表面积测定；
测量范围：0.0005(m2/g)--至无上限（比表面积）; 0.35nm-2nm(微孔)；2nm-500nm(中孔孔和大孔)；0.0001 cc/g--之无上限(总孔体积)；
测量精度：比表面积重复精度≤±1.0%；最可几孔径重复偏差≤0.01nm； 真密度≤±0.04%；外表面积≤±1.5%；
测量模式：“单一氮气”和“氮气+氦气”两种测试模式结合，灵活切换，满足不同特性样品测试需求；
标定气体：具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能，不能仅仅只具备采用“氮气+空管”模式标定冷自由空间；
样品数量：同时进行4个样品分析测试和4个样品脱气处理，样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命；
压力测量：采用*高精度压力传感器，显著提高 P/Po点测试精度精度0-1000 Torr（0-133Kpa），0-1 Torr（0-0.133Kpa）；
压力精度：进口硅薄膜电容式压力传感器，精度达实际读数的0.15%，优于全量程的0.15%，远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15%）；
分压范围：P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.998；
极限真空：4x10－2Pa (3x10－4Torr)；
真 空 泵：进口双级真空泵可以实现外置和内置仪器中二种放置方法，内置仪器中可以通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停，从而延3.长真空泵的寿命；
样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等；
测试气体：高纯N2气(99.999%)或其它（按需选择如Ar，Kr）；
数据采集： 高精度及高集成度数据采集模块，误差小，抗干扰能力强；
V-Sorb 4800P4站式比表面积及孔隙度测试仪数据处理：Windows兼容数据处理软件，功能完善，操作简单，多种模式数据分析，图形化数据分析结果报表；
