冷热冲击快速温变箱_冷热冲击快速温变试验箱-东莞市赛思检测设备有限公司手机版

详细介绍

冷热冲击快速温变箱特点：

◆可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；

◆等均温速率可设定范围5℃～30℃(40℃)；

◆满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求；

◆采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；

◆除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成；

◆通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；

◆感测器放置测试区出（回）风口符合实验有效性；

◆机台多处报警监测，配置无线远程报警功能；

冷热冲击快速温变箱满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求;

可控制范围：

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验
	28℃/min→	LED汽车照明灯
	25℃/min→	PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应
	24℃/min→	光纤连接头
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技术的温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、汽车引擎盖下环境)
	11℃/min→	无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试
	5℃/min→	锡须温度循环试验

技术规格：