SETH/赛思 品牌
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温度应力试验箱TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]:
30℃/min→ 电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验;
28℃/min→ LED汽车照明灯;
25℃/min→ PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应;
24℃/min→ 光纤连接头;
20℃/min→ IPC-9701 、覆晶技术的温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命;
17℃/min→ MOTO;
15℃/min→ IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器 电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、 汽车引擎盖下环境);
11℃/min→ 无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A;
10℃/min→ 通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试;
5℃/min→ 锡须温度循环试验;
温度应力试验箱技术规格:
内箱尺寸:W x D x H cm 40×35×35、 50×50×40、 60×50×50、 70×60×60
外箱尺寸:W x D x H cm 140×165×165、 150×200×175、 160×225×185、 170×260×193
温度范围: -80.00℃~+200.00℃;
低温冲击范围: -10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃;
高温冲击范围: +60.00℃~+150.00℃;
时间设定范围: 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment;
温度波动度: ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示);
温度偏差: ≤±2℃(-65℃~+150℃);
温度均匀度: <2.00℃以内;