X荧光光谱仪EDX9000P性能优势

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采用行业的极速探测器技术——（X-SDD）分辨率zui低至125eV
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，X荧光光谱仪EDX9000P检出限更低
采用行业的数字多道技术 
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率zui高可达1000Wcps
采用大功率X光管及*的准直滤光系统 
优势：激发效率更高
X荧光光谱仪EDX9000P光闸系统 
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统 
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点 
多点测试 
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试 
超小样品检测——zui小可测到0.2毫米 
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器zui小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
X荧光光谱仪EDX9000P人性化的设计 
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示

X荧光光谱仪EDX9000P技术参数

X荧光光谱仪EDX9000P测量元素范围：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，zui薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9%
稳定性：0.02%
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
X荧光光谱仪EDX9000P探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片自由切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）