Agilent 710 icp-oes仪器为台式设计、全谱直谱型电感耦合等离子体发射光谱仪，满足各行业的科研和生产分析过程,可方便的进行定性、半定量、精确定量分析，是常量、微量和痕量无机元素同时分析的理想仪器。

真正的全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪，百万像素CCD检测器的全谱直读ICP-OES?；
新一代薄型背投式密封CCD检测器，无需氩气吹扫，运行成本低，具有性价比。

瓦里安ICP-OES?710ES技术特点??
一个检测器、一个狭缝、一种观察方式、一次读数获得所有待测元素的光谱信息——真正的全谱直读ICP-OES?

参数指标：

光学系统：中阶梯光栅前置棱镜交叉色散系统
波长范围：177～785nm，全波长连续覆盖
焦距：0.4m
光栅刻线：94.74线/mm
分辨率要求：像素分辨率≤0.004nm(200nm)，光学分辨率≤0.009nm(在200nm)
检测器：背面入射式的CCD固体检测器，有效象素≥112万象素
线性范围：结合MultiCal多重检量线功能,需要达到108以上
功率范围：700-1700W,增量50W,有PC控制
元素的检测限(ug/L)：
Al 396.152  0.9；Cr 267.716  0.2；Fe 238.204  0.2 ；Cd 214.439  0.08 ；Co 238.892  0.3
环境温度：10℃～35℃
相对湿度：8%～80%(不冷凝)
电源：220V±10%交流，50Hz

 仪器操作软件及计算机控制功能要求
计算机操作系统：Windows2000/XP/NT； 
操作软件控制：仪器设置和参数选择，包括气体流量，RF功率、点火、诊断等； 
操作软件：具有工作表格界面的中文操作软件、在线帮助和在线仪器维护录象功能； 
操作界面具有实时图形显示光谱信号，结果和曲线图功能； 
软件具有在线谱图库：≥33,000条谱线；同时具有任意填加分析谱线的功能； 
具有快速自动曲线拟和技术（FACT）功能，对复杂的光谱进行在线光谱校正； 
软件具有标准曲线重置斜率功能，以避免整条标准曲线的重校； 
软件支持Microsoft’s SQL Server 2005数据库， 进行存储数据的保护和结果的快速恢复； 
用户可以设定多种报告或输出的方式； 
软件操作界面具有图形显示系统状态和进行全面的仪器状态诊断工具； 
分析190nm以下分析谱线时，一旦点火，软件具有自动启动吹扫功能，确保短波区域的分析谱线获得准确的测定结果；
软件具有自动启动等离子体熄火功能，提高仪器运行的安全性能； 
工作条件
工作环境：
环境温度：10℃～35℃
相对湿度：8％～80％（不冷凝）
电源：220V±10％交流，50Hz。

Agilent 710 icp-oes技术参数： 

1光学系统 
仪器光学系统要求:中阶梯光栅前置棱镜交叉色散系统；波长范围177～785nm，全波长连续覆盖；焦距：0.400米；光栅刻线：94.74线/mm；
紫外区和可见区分析波长测定方式:紫外和可见区必须同时测定，测定过程中无任何移动部件；
密封单色器，恒温35℃；
波长校正方式：采用15种标准混合溶液进行波长校正,并且利用氩的发射谱线自动进行周期性的实时波长校正；
分辨率要求：像素分辨率≤0.004nm(200nm)，光学分辨率≤0.009nm(在200nm)；
杂散光要求：≤2ppm As(10,000ppm Ca溶液在As 188.980nm处测定)；
单色器为吹扫型，吹扫气流量不超过0.5L/min，且185nm以下波长测定：需要快速吹扫光路,吹扫气流量不超过3L/min,气体流量均有PC控制。