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全类型红外显微镜
近红外一般定义为700-1600nm波长范围内的光线，由于硅传感器的上限约为1100nm，砷化铟镓（InGaAs）传感器是在近红外中使用的主要传感器，可覆盖典型的近红外频带。大量使用可见光难以或无法实施的应用可通过近红外成像完成。当使用近红外成像时，水蒸气、雾和硅等特定材料均为透明，因此红外显微检测被应用于半导体行业的各个方面。红外显微镜配备的5X到100X红外（IR）物镜。 参考价面议 -
全类型particle counter
Wafer光学量/检测系统
⾃动⼯业显微镜系统 (5X~150X)
Wafer 表⾯瑕疵检测系统 (1um)
Particle counter检测设备 (0.1um)
光学系统： 同时3种通道检测， 可到达分辨率0.1um
⾼速系统： 6 inch 只要3分钟
复判判断： 内建整合DIC显微镜， 可透过⾼倍率的⽅式对于瑕疵进⾏影像确认与分析.
分类模块： 可针对瑕疵尺⼨⼤⼩进⾏分类统计 参考价面议 -
全类型半导体KOSAKA 小坂探针接触式台阶仪
KOSAKA LAB ET 200A
微细形状测定机（探针接触式台阶仪）
株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年创立的公司，也是日本发表光学
杠杆表面粗糙度计，是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大
部门。其中测定部门为具代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位。 参考价面议 -
全类型红外金相显微镜芯片隐裂瑕疵红外无损检测
近红外检测应用实例
Vcsel芯片隐裂（cracks）、InGaAs瑕疵红外无损检测
Vcsel芯片氧化孔径测量
法拉第激光隔离器,Faraday Isolator近红外无损检测
diechip失效分析
红外透射Wafer正反面定位标记重合误差无损测量
硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底无损红外检测
太阳能电池组件综合缺陷红外检测 参考价￥100000 -
DEKTAK XT/XTL半导体测量仪器-台阶仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的技术，更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度 参考价面议 -
scrubber全类型尾气处理设备-scrubber
坐落于中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所，与德国及韩国相关企业合作，主要致力于研发及生产各种系列的废气净化材料及尾气处理设备，在国内拥有独立的知识产权，并拥有*的吸附剂测试平台，目前已经在半导体芯片制造、LED、FPD、Solar以及各科学研究所得到广泛应用。
我司有各类专业吸附剂，吸附剂也称吸收剂，气体吸附分离成功与否，极大程度上依赖于吸附剂的性能，因此选择吸附剂是确定吸附操作的首要问题。 参考价面议 -
晶圆搬运机loader含显微镜
OLYMPUS AL120晶圆搬送机，本产品是操作方便，非常适合于前道到后道工程的晶圆检查的晶圆搬送机。AL120晶圆搬送机可相匹配200mm下列晶圆尺寸的硅、化合物晶圆，能够高效率搬送薄片晶圆等，AL120搭载奥林巴斯MX专业晶圆检查显微镜系列，通过各种观测方法，包括：明视场、暗视场、微分干涉（DIC）、近IR（近红外线）和DUV（深紫外线），实现了很好的图像分辨率和清晰度。 参考价面议 -
CAM110接触角量测仪
本系列是根据用户样品尺寸大小订制的样品台加大型接触角测量仪。通过测试液体在固体表面形成接触角的大小，判断液体对固体的浸润性，进而检测固体表面的洁净度和处理效果。广泛应用于玻璃、液晶屏、触控屏、封装基板等大样品表面的污染检测、粘合能力分析、表面处理效果评估等。 参考价面议 -
显微镜mr50RNW –mr50
型号：RNW –mr50
产品特点：
1. 超大移动范围的载物台设计，移动范围：250mm×200mm
2. 可供IT行业大面积集成电路、晶片的观察和检测，
镜体机构舒适稳重、操作方式轻松快捷。 参考价面议 -
hi tachI FT110AFT110A 日立膜厚仪
FT110A 日立膜厚仪
微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。 参考价面议 -
MM-640显微镜探针卡显微镜 MM-640
探针卡显微镜MM-640，将精锐的光学显微镜技术、*的光电转换技术、优秀计算机成像技术很好地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察图像,又可以在计算机显示器上很方地适时观图像，并可随时捕捉记录图片。 参考价面议 -
SQ200A微分干涉显微镜
测产品介绍：
SQ200A微分干涉显微镜目前大部分高级偏光、DIC等显微镜主要依赖于国外进口，基本上被Zeiss、Leica、Nikon、Olympus垄断。在针对TFT-LCD行业中显微影像检测频繁，也是为重要的检测环节（看导电粒子的压破状况，看爆破，及其开口等）。由于考虑国外显微镜昂贵，站在客户节约成本的立场情况下，SQ200A微分干涉显微镜 参考价面议