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MarSurf XC 2 mit CD 120 轮廓测量站/MarSurf XC 2 mit CD 120 轮廓测量站/
精密轮廓测量入门之选
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时，它还能提供安全而可靠的结果。
接触速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
|---|---|
测杆长度 | 175 mm, 350 mm |
测量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 | 25 µm |
扫描长度末尾（X 方向） | 120 mm |
分辨率 | Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆） |
扫描长度开始（X 方向） | 0.2 mm |
取样角 | 在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77° |
定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s |
导块偏差 | < 1 µm（超过 120 mm） |
测量范围 mm | （Z 方向）50 mm |
扫描长度（文本） | 0.2 mm 至 120 mm |
测量力 (N) | 1 mN 至 120 mN |
