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MarSurf XC 20 mit PCV 200 轮廓测量站/MarSurf XC 20 mit PCV 200 轮廓测量站/
轮廓测量的基准
MarSurf XC 20 被*为轮廓评估的*产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过*的技术发展为*质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
接触速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
|---|---|
测杆长度 | 175 mm, 350 mm |
测量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 | 25 µm |
扫描长度末尾（X 方向） | 200 mm |
分辨率 | Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆） |
扫描长度开始（X 方向） | 0.2 mm |
取样角 | 在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77° |
定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s |
导块偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
测量范围 mm | （Z 方向）50 mm |
扫描长度（文本） | 0.2 mm 至 200 mm |
测量力 (N) | 1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中设置） |
