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销售:钟
MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量站、MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量站、
在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓
这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和
轮廓测量。
根据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。
接触速度(Z 方向) | 0.1 至 1 mm/s |
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测杆长度 | 175 mm, 350 mm |
测量速度(文本) | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 | 25 |
扫描长度末尾(X 方向) | 200 mm |
分辨率 | Z 方向,相对探针针头: Z 方向,相对测量系统: |
扫描长度开始(X 方向) | 0.2 mm |
取样角 | 在平滑表面上,取决于偏差: |
定位速度(文本) | X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s |
导块偏差 | < 1 µm(200 mm 以上) |
测量原则 | 探针法 |
输入 | R 测头,MFW 250 |
测量范围 mm | (in Z) 50 mm |
扫描长度(文本) | 自动;0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm, |
采样长度数量符合 ISO/JIS | 1 至 50(默认:5) |
测量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右 |