MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量站

MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量站

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具体成交价以合同协议为准
2018-01-11 11:24:22
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瑞轩电子科技(上海)有限公司

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产品简介

在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓
这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和
轮廓测量。
根据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。

节省空间型设计:两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱

详细介绍

销售:钟        

MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量站、MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量站、

在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓
这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和
轮廓测量。
根据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。

 

接触速度(Z 方向)

0.1 至 1 mm/s

测杆长度

175 mm, 350 mm

测量速度(文本)

0.2 mm/s 至 4 mm/s

针尖半径

25

扫描长度末尾(X 方向)

200 mm

分辨率

Z 方向,相对探针针头:
0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆)

Z 方向,相对测量系统:
0.04 µm

扫描长度开始(X 方向)

0.2 mm

取样角

在平滑表面上,取决于偏差:
后缘高至 88°,前缘高至 77°

定位速度(文本)

X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s

导块偏差

< 1 µm(200 mm 以上)

测量原则

探针法

输入

R 测头,MFW 250
光学测头 Focodyn*、LS 1*、LS 10*
(*仅结合 PGK 或 GD 120 CNC 驱动装置)

测量范围 mm

(in Z) 50 mm
MFW 250: ±25 µm,±250 µm,(zui高 ±750 µm);±1000 µin,±10,000 µin(zui高 ±30,000 µm)

扫描长度(文本)

自动;0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,
(.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸),
测量至挡块,可变

采样长度数量符合 ISO/JIS

1 至 50(默认:5)

测量力 (N)

1 mN 至 120 mN 左右
(可在 MarSurf XC 20 中设置)

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