电子元器件老化测试设备

产品概述：

探井设备中的电路板采用的电子元器件在入厂前需要进行从室温到高温的功能性定性测试，其目的是为电路板的装配做元器件的筛选，即对元器件在老化过程中进行功能性测试，保证器件的高可靠性。 
本电子元器件老化测试设备为某钻探工程有限公司设计的电子元器件老化测试设备。设备由美国NI公司的高性能硬件与软件，配合国内外*的模块化仪器设备，结合我公司自主开发的信号路由矩阵及标准软件组成，系统除装卸件采用手动完成外，测试过程由系统自动完成。 

本设备采用了模块化、标准化组件和元件，可以在室温至180摄氏度环境温度下对电子元器件进行功能、电气指标的自动化测试，并对测件性能进行评判，可测试8类元器件。

产品功能：

性能详解：

专注于元器件的在线环境仿真与性能检测；
室温至180摄氏度的任意温度点在线环境测试，精度可达0.1摄氏度；
可以任意设置老化温度点、老化时间与循环测试时间间隔。
集成自行研发大规模信号路由矩阵，资源路数可达192（×8）×16，同时兼容10MHz带宽高频信号及3A功率信号传输，通道间绝缘大于1000M欧姆，线路阻抗小于600m欧姆，串扰1MHz小于-60dB。
支持电阻、电容、电感、稳压器、二极管以及变压器等多种元器件精确测试，测试内容涵盖电阻、电容、电感、纹波抑制比、耐压等； 
老化板适配夹具耐温可达270摄氏度，接口可基于元器件任意定制，可*扩展设备的适用范围；
自动化测试过程控制，操作简单，具有强大的数据存储、曲线分析与报表生成功能。

技术指标：

基本指标