颗粒外观缺陷检测扫描设备介绍

扫描分析异色料子，包括黑粒、杂色粒等异色粒子

扫描分析异形粒子，包括大小粒、蛇皮粒等等异形粒子

扫描分析异色异形粒子，MP-C1和MP-V1功能结合体设备。

颗粒外观缺陷检测仪MP-C1/V1（彩色摄影机）是Mcroptik公司专为塑料聚合物工业开发的，也是为了满足原材料供应商对产品质量的要求提高MP-C1异色分析设定20微米到200微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理出2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子，当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料  MP-C1/V1这一款的粒子扫描系统，我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在20微米的标准开始，在测试50微米，然后100微米到最后200微米等10个规格（客户也可以自定义）。根据测量结果我们得到以下一组数据，并作为技术参数。

颗粒外观缺陷检测MP-V1异形分析设定30微米到1000微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子，当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料。MP-V1这一款的粒子扫描系统，我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在30微米的标准开始，最后10000微米等10个规格（客户也可以自定义）根据测量结果我们得到以下一组数据，并作为技术参数。

颗粒外观缺陷检测技术指标、芯片彩色摄影机设定摄影机的像素：1936x1216像素，像素尺寸Pixel size：4.5um。
（1）20um起
USB 3CMOS
161f/s
18W
LED强光源（含测试台背景辅助光源）
:19寸长
500x600x500mm（长、宽、高）
/功率：约在230V/110V:380VA
45公斤