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量仪用的信号处理电子系统可获得大量测量数据并提供测量值统计计算功能。
QUADRA-CHEK是轮廓投影仪、测量显微镜、2-D和影像测量机以及三坐标测量机测量2-D轮廓中点位的信号处理电子系统,根据选择的机型,可手动也可自动测量,支持十字线,光学找边或用摄像头拍摄实时图像和自带图像处理功能。对于3-D轮廓,例如平面,圆柱形,圆锥形和球形,测头探测后保存测量点。
选装的CNC版还能进行全功能轴定位控制和自动执行测量程序。
| IK 5000 |
轴线1) | 3(XYQ)、3(XYZ)或4(XYZQ) |
编码器输入* 输入频率 | 1伏聚丙烯或 TTL(应要求提供其他接口) 1伏聚丙烯:差动≤1.5兆赫; TTL:差动≤3兆赫≤2.5兆赫 |
细分因子 | 可达100倍,可通过DIP开关选择;默认设置:50倍(仅适用于1v)。聚丙烯) |
显示步骤2) | 可调,大。7位数 直线轴XYZ:1~0.0001 mm;角轴Q:1°至0.0001°(00°00‘01“) |
显示 | 通过个人电脑屏幕 |
功能 |
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边缘检测器1) |
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视频1) |
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数控1) |
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三维剖面1) |
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误差补偿 |
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其他连接 |
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附件 | 脚踏开关,光纤电缆,fo电缆保持架,校准标准,演示部分,分配电缆。 |
PC接口 | PCIe |
操作温度 | 0°C至55°C;(储存温度-30°C至70°C) |
维数 | 241毫米x 126毫米x22毫米 |
*订购时请选择1)有关可能的组合,请参见配置表。 2)取决于连接编码器的信号周期以及细分因子。 |
详见:德国海德汉HEIDENHAIN评估电路/报价