1.   设备功能概述

a)   测试机具有高测试精度、高灵敏度、高可靠性、高安全性的特点，可实现SiC器件动态参数的精确测试。

b)   简洁的人机交互界面（计算机）可以满足测试人员对SiC器件测试条件的约束和测试完毕后相关参数的自动显示。

c)   系统母线电压闭环处理，自动调节为预期设定值。

d)   门极驱动电压-10V～20V可调(正电压与负电压绝对值差值必须大于5V)。

e)   主控系统由开关速度更高的IC 器件构成，大大提升了对采样的处理速度和测试精度。

f)   驱动信号采用光纤通讯，避免外来传导或辐射干扰对测试精度的影响。

g)   系统配置DUT 测试保护罩，此保护罩的开合状态与母线电压进行互锁，防止测试人员在母线带电的情况下就对DUT进行操作的危险行为发生。

h)   配置系统急停按钮，拍下此按钮断开系统主功率输入并且母线放电；放电时间<1S。

i)   为了进一步减小母线回路寄生参数对测试结果的影响，功率回路特殊设计。

j)   负载接口预留阻性和感性接口，根据需要，客户手动配置。