半导体分立器件测试系统
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KEW3500-2KV-2500A半导体分立器件测试系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-01-03 16:27:10
476
属性:
价格区间:10万-30万;应用领域:化工,能源,建材,电子,交通;
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产品属性
价格区间
10万-30万
应用领域
化工,能源,建材,电子,交通
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武汉赛斯特精密仪器有限公司

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产品简介

KEW3500 测试系统通过PC 机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制,达到对
器件进行测试的目的。在一定的测试条件下,这些源与条件负载按照条件准确的连接,其中包含了
大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

详细介绍

1.技术性能指标

1. 物理指标:设备尺寸(mm):800(宽)×600(长)×1800(高)mm;

2.电学指标

主极电压2000V

主极电流2500A

控制极电压20V

控制极电流10A

电压分辨率1mV

电流分辨率100pA

测试速度5mS/参数


晶体管:TRANSISTOR(NPN 型/PNP 型)

测试参数:ICBO(发射极开路时集电极-基极的反向电流)、ICEO(集电极-发射极漏流)、IEBO(发射极

-基极间的漏流)、BVCEO(集电极-发射极的击穿电压)、BVCBO(集电极-基极的击穿电压)、BVEBO(发

射极-基极的击穿电压)、hFE(放大倍数)、VCESAT(集电极-发射极间的饱和压降)、VBESAT(基极-发

射极间的饱和压降)、VBE(基极-发射极间的非饱和压降)


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