OTSUKA/日本大冢 品牌
生产厂家厂商性质
苏州市所在地
半导体行业液晶层间隙量测设备 RETS series
对应范围广,从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
产品信息
特 点
• 采用了偏光光学系和多通道分光检出器
• 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板
• 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备
测量项目
• 封入cell gap
• twist角 *
• rubbing角 *
• pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA] *
• 空cell gap *
• 相位差(复折射相位差)的波长分散 *
• 光学轴 *
• 椭圆率/方位角 *
• 三次元折射率/Rth/β *
• 分光光谱/色度*
测量对象
• 液晶cell
- 透过、半透过型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
• 光学材料
- 其他(相位差・椭圆・偏光膜、液晶材料)
仕 样
型号 | RETS series |
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样品尺寸 | 20mm×20mm ~* |
cell gap测量范围 | 0.1μm ~数10μm |
cell gap重复性 | ±0.005μm |
检出器 | 多通道分光光度计 |
测量波长范围 | 400nm ~ 800nm |
光学系 | 偏光光学系 |
测量口径 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光轴倾斜机构 | -20 ~ 45°、-45 ~ 45°等 |
测量案例
相位差与液晶层间隙值
液晶面内分布图