漫反射率测试系统

S-MRS系列漫反射率测试系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-12-18 20:36:28
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上海波铭科学仪器有限公司

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产品简介

漫反射率测试系统光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区),漫反射率测试系统光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm

详细介绍

S-MRS系列漫反射率测试系统应用:

• 光谱测量范围:350-2500nm ;光谱分辨率:2nm以下;光谱扫描步距:0.2-100nm可连续设置

• 波长准确度:优于±0.2nm(紫外-可见区),优于±0.5nm;(近红外区)

• 光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区)

• 光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm

S-MRS系列漫反射率测试系统特点

• 光谱测量范围:350-2500nm ;光谱分辨率:2nm以下;光谱扫描步距:0.2-100nm可连续设置

• 波长准确度:优于±0.2nm(紫外-可见区),优于±0.5nm;(近红外区)

• 光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区)

• 光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm

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