高光谱测试系统

高光谱测试系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-12-18 21:05:11
1459
产品属性
关闭
上海波铭科学仪器有限公司

上海波铭科学仪器有限公司

高级会员4
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

高光谱测试系统基于offner型的凸面光栅分光系统,其原理新颖,相比较其他分光系统具有光学相对孔径大、色散线性度好、结构 紧凑和图像成像质量佳等优点。

详细介绍

高光谱测试系统

 

高光谱测试系统核心优势:

名称

VNIR成像光谱仪

SWIR成像光谱仪

SWIR成像光谱仪

光谱范围(nm)

400-1000

900-1700

1000-2300

分光类型

凸面光栅分光

光谱分辨率(狭缝25um)

3-4 nm

优于10 nm

10nm

光谱分辨率(狭缝12um)

1.5-2 nm

优于5nm

/

光学孔径F/#

F/2.2

狭缝高度

12mm

像素色散值

0.6nm

3.6nm/pixel

7nm

光谱波长精度(nm)

优于1

优于2

优于4

光学系统效率(平均)

60%

光谱通道

256-1152(可编程)

220

空间通道

2048

320

SCMOS相机

像元:6.5um*6.5um像元 数:2048*1152 QE>70%@595nm

像元:15um*15um 像元数:640*512

像元:30um*30um 像元数:320*256

数据量化位数

16

12

前置镜头

焦距17mm

焦距4.8-70mm,可选配

仪器重量(kg)

4.2

4.5

尺寸(mm)

215*175*110

260*175*110

上一篇:偏振片在不同场合中的应用 下一篇:裸眼3D工业显微镜的技术特点
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :