Capability:

• High sensitivity 高灵敏度

• C-V characterization 深能级C-V测试

• Capture cross section measurement 俘获界面测试

• Optical injection 光注入

• Conductance transient measurements 瞬态电导测试

• Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基础测试

• Cryostats LN2,低温致冷

上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。