波铭科仪 品牌
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上海市所在地
Semiconductor Surface Barrier-Vsb 表面势垒
Oxide Total Charge -Qtot 氧化物总电荷
Interface Trapped Charge-Qit 界面电荷
Interface Trap Density-Dit 界面态密度
Di Spectrum:Dit vs. Vsb
Dielectric Capacitance -CD and thickness -CET 介电层电容和电学总厚度
Dielectric Leakage 介电层漏电
上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。