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作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器,其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20,这款精密的大型样品原子力显微镜,凭借着出色的数据准确性,在半导体和超平样品行业中大受赞扬。
NX20 高精度全自动大面积原子力显微镜概述:
Park NX20具备功能,可快速帮助客户找到产品失效的原因,并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。精密度为您带来高分辨率数据,让您能够更加专注于工作。与此同时,真正非接触扫描模式让探针尖duan更锋利、更耐用,无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和金钱。。
ParkNX20拥有业界为便捷的设计和自动界面,让你在使用时无需花费大量的时间和精力,也不用为此而时时不停的指导初学者。借助这一系列特点,您可以更加专注于解决更为重大的问题,并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。
样品侧壁三维结构测量
NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面,并测量它们的角度。众多的功能和用途正是您的创新性研究和敏锐洞察力所*的。
对样品和基片进行表面光洁度测量
表面光洁度测量是Park NX20的关键应用之一,能够带来失效分析和质量保证。
QuickStep SCM
快的扫描式电容显微镜
PinPoint AFM
无摩擦导电原子力显微镜
没有压电蠕变误差的真正样品表面形貌
超低噪声Z探测器,噪音水平低于0.02 nm,从而达到样品形貌成像,没有边沿过冲无需校准。Park NX20在为您提供好的数据的同时也为您节省了宝贵的时间。
低噪声Z轴探测器代替Z电压作为形貌信号。低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。
该自动化功能可大大减少扫描过程中人工移动样品所需时间,从而缩短测试时间,提高生产率。
您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜镜头。该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置,同时与复位精度为几微米的电路系统相连接。借助于相关性低的SLD,显微镜可成像并可准确测定力-距离曲线。
只需将可选模块插入扩展槽便可激活高级扫描探针显微镜模式。得益于NX系列原子力显微镜的模块设计,其生产线设备兼容性得到大大提高
所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理。 该控制器是个全数字,24位高速控制器,可确保True Non-Contact™模式下的成像精度和速度。凭借着低噪声设计和高速处理单元,该控制器也是纳米成像和电压电流测量的选择。嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能,更好的解决方案,是高级研究员的选择。
XY和Z轴检测器的24位信号分辨率
嵌入式数字信号处理功能
集成式信号端口