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ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 | |||||||||||||||||||||||||
该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。 | |||||||||||||||||||||||||
◆ 特点: | |||||||||||||||||||||||||
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◆ 技术指标: | |||||||||||||||||||||||||
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◆ ST-21L方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格: | |||||||||||||||||||||||||
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◆ ST-21L方块电阻仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格: | |||||||||||||||||||||||||
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