XX-2-方块电阻测试仪_四探针电阻率-北京鼎盛荣和科技有限公司手机版

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产品简介

四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜）……等同类物质的薄层电阻。

XX-2型方块电阻测试仪是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特点：

1	采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
2	以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3	采用单个电池供电，带电池欠压指示
4	体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5	可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易
6	带探头与被测物质接触良好指示(LED)
7	单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。

◆ 技术指标：