RTS-3-手持式四探针仪_四探针电阻率-北京鼎盛荣和科技有限公司手机版

产品简介

RTS-3型手持式四探针仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

详细介绍

RTS-3型手持式四探针仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
仪器采用了新的电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

RTS-3型手持式四探针仪技　术　指　标 ：

测量范围	电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；方块电阻：0.1～19999Ω/□；
恒流源	电流量程分为100μA、1mA两档，两档电流连续可调
数字电压表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；分辨力：10μV；输入阻抗：>1000MΩ；精度：±0.1%；显示：以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；极性、超量程自动显示；
四探针探头基本指标	间距：1±0.01mm；针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%；探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；探针压力：5～16 牛顿(总力)；
四探针探头应用参数	(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差 ( 按JJG508-87进行)	1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量最大相对误差	(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度	≤5%
外型尺寸	185mm(长)90mm(宽)30mm(高)
重量	350g
电源	锂电池，一次充电可连续使用100小时；
标准使用环境	温度：23±2℃；相对湿度：≤65%；无高频干扰；无强光直射；

产品简介

详细介绍

常用功能直达