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光焱科技REPS Voc损耗分析仪可以检测极低的 EL-EQE 信号(低至 10-5%,即 7 个数量级),还可以计算热力学 Voc、辐射复合 Voc 和非辐射复合 Voc(通过其软件SQ-VLA)。此外,也可以在一个柱状图中分析不同类型设备之间的ΔE1、ΔE2和ΔE3损耗。重要的是,分析软件可以帮助用户将计算出的Voc-loss与设备IV曲线的真实Voc-loss进行匹配,从而促进研究进展和期刊发表。
*它可以测量:absolute EL-EQE、EL spectra(V)、JV curve、EQE-J。
*该软件可以显示的图表包括:EL-EQE(J)、EL-EQE(V) 、multi-EL-spectra、 JVL曲线、ΔE1、 ΔE2、和ΔE3直方图。
*该系统可以计算和分析热力学Voc、辐射复合Voc和非辐射复合Voc。
*波长检测范围:300~1100纳米;并可扩展到1700纳米(选项)。
* NIST-traceable absolute radiometric calibration(瓦特,从300~1100纳米)。
*EL-EQE检测范围:10-5%到极大值(动态范围7阶)。
*EL-EQE un-repeatability<1%。
*EL-EQE un-reproducibility<1.5%。
*EL低光检测SN比:>50:1 @5×10-5%(REPS Pro)。
*Glove Box 整合工具包。
*客制的测试夹具。
REPS系统另有进阶类型(REPS Pro),其规格比较如下:
光焱科技REPS Voc损耗分析仪可用于:
– 改善OPV的Voc-loss
– 改善钙钛矿 Voc-loss
– 电荷传输状态识别