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生产厂家厂商性质
高雄市所在地
使用均勻光源的「照度模式」（Irradiance Mode） 符合ASTM E1021
取代传统聚焦小光源，可以测试等级光电子检测器。
均势光斑可以克服色散差与像差的问题，可准确测量得EQE曲线
可搭配多种探针系统，实现非破坏性的快速测试。
整合光学与测试系统，提高系统搭建效率。
一体式自动化测试软件，自动光谱保存与检测，工作效率高。
測試特性：
– 环境效率 EQE
– 光譜回應 SR
– IV 曲线检测
– NEP 光谱检测
– D* 光谱检测
– 噪声-电流-频率响应图（A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz）
– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
专业技术
定制化光斑尺寸与光强度光焱科技APD-QE光谱仪量子效率检查系统在光束直达25mm光束尺寸、工作距200mm条件下检查，可以达到光强度与光均强度如下。在波长530nm时，光强度可以达到82.97uW/(cm 2 )。
| 波长 (纳米) | 半高寬（nm） | 光均U%=(Mm)/(M+m) | |
| 5毫米×5毫米 | 3毫米×3毫米 | ||
| 470 | 17.65 | 1.6％ | 1.0％ |
| 530 | 20.13 | 1.6％ | 1.2％ |
| 630 | 19.85 | 1.6％ | 0.9％ |
| 1000 | 38.89 | 1.2％ | 0.5％ |
| 1400 | 46.05 | 1.0％ | 0.5％ |
| 1600 | 37.40 | 1.4％ | 0.7% |
在光斑直径25mm、工作距200mm条件下，APD-QE探测器量子效率测试系统测量的光均强度。
光焱科技具備自主光學設計能力。光斑與光強度在內容中，可以接受客製化，如有需要與我們聯繫。
定量控制功能
APD-QE 光感测器量子效率检测系统具有「定量」功能（选配），用户可以透过控制各个单色光子数，让各波长光子数都一样，并进行测试。这也是光感测科技 APD-QE 光感测器量子效率检测系统的独到技术，其他厂商都做不到。
使用定量子数控制模式（CP控制模式），子数变化可以 < 1%
统一系统与探针整合
| 可量測 | 可客裂解 |
|---|---|
| 1.最终光強校正 | ．客化暗箱 |
| 2.光谱响应测定 | ．XYZ轴位移平台 |
| 3.外部量子效率（EQE） | ．定制探针台整合服务． |
| 4.NEP 光譜 | |
| 5.D*光譜 | |
| 6.噪音-电流-频率響應图(A/Hz -1/2 ) | |
| 7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析 | |
| 8.IV 曲线测试 ．不同光IV 曲线测试 ．定电流/电压，电压/电流间变化测试 ．照光条件下 |
采用了利傅立叶光学元件均光系统，可将单色光强度空间分布均势化。在 10mm x 10mm 面积以 5 x 5 检测光强度分，不一致势在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面积以 10 x 10 矩检测光强度分，不一致势可以小於 4%。
PDSW软件采用全新SW-XQE软件平台，可进行多种自动化检测，包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率杂讯电流图（A/Hz1/2）、杂讯分析等。
EQE测试功能，可以进行不同单色波长测试，并且可以自动测试全光谱EQE。
软体可支持多种 SMU 控制，自动进行光照 IV 测试以及暗态 IV 测试，并支持多图显示。
相对于其它 QE 系统，APD-QE 可以直接检测并得到 D* 与 NEP。
升级FETOS软件操作界面（选配），可测试3端与4端的Photo-FET组件。
APD-QE 系统由其出色的光学系统设计，可以组成多种探针台。全波长光谱仪的所有光学元件都集成在精巧的系统中。单色光学仪引到探针台遮光罩盒。图像显示了 MPS-4-S 基本探针台组件，带有 4 英寸真空吸入盘和 4 个带有低噪音三轴电子的探针微定位器。
集成探针台显示微镜，手动滑动切换到被测试设备的位置。使用滑动条件后，单色光源器被「固定」在设计位置。显示微图像可以显示于屏幕上，方便用户进行良好的连接。
A. 定制化隔离遮光箱。
B. 由于先进的PD估算响应速度，所以有效面积就要小（降低容量效率），因此，有很多需要整合探针台的需求。
C. 可整合不同的半导体分析仪器如4200或E1500。
LiDAR 中的光电探测器
– InGaAs 光电二维 / SPAD
苹果手錶光能電感測器
用於高增益感和成像光電二極體門控電晶體
高频电感增益和填充系数光学灵敏度分析仪
高灵敏程度间转换X射线探測器表徵
矽光學
– InGaAs APD
