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TESCAN AMBER是一款超高分辨的FIB-SEM 系统,集成了 BrightBeam™ SEM 镜筒、Orage™ Ga FIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设 计,在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展 能力方面达到了业内顶级水平。
TESCAN AMBER泰斯肯配置的新一代Essence ™操作软件极 大简化了用户界面,能快速访问各主要功能,并优 化了操作流程向导,易于学习,可根据工作需要定 制操作界面。
新颖的样品室内3D空间位置和移动轨迹模拟 功能,可避免误操作,造成碰撞。
新型Orage™镰离子FIB镜筒
创新的OrageTM Ga F旧镜筒配有良好的离 子光学系统和顚设计的OptiGISTM气体注入系统, 束流可达100 nA,具有超快速加工能力,新颖的 SmartMill高速切割功能,使得加工效率提升一倍。
AMBER离子能鱼低可达500 eV,拥有更优 秀的低压样品制备能力,可以快速制备无损超薄 TEM样品。系统还可以配置多种扩展分析附件,并 实现与Raman、TOF-SIMS —体化。
• SEM 分辨率:0.9nm@ 15kV
• F旧分辨率:<2.5nm@30kV
• 可选择不同角度和不同能量收集电子信号, 获得更好的表面灵敏度和对比度
• 静电-电磁混合物镜,无外泄磁场,更适合 对磁性样品的观察和分析
• 光阑孔径达30个,由压电陶瓷驱动器控制, 全面提升束流强度和精度
• 配置大型样品室,有超过20个扩展接口, 为原位观测和分析创造了良好的工作环境
1.乳胶珠,50V成像。
2.锂电池负极上制备出的50 pm长度的截面。
3.未喷镀的霉菌,800 V成像。
4.小鼠舌的表面形貌,2 kV, Cryo-SEM0。