TESCAN AMBER是一款超高分辨的FIB-SEM 系统，集成了 BrightBeam™ SEM 镜筒、Orage™ Ga FIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设 计，在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展 能力方面达到了业内顶级水平。

TESCAN AMBER泰斯肯配置的新一代Essence ™操作软件极 大简化了用户界面，能快速访问各主要功能，并优 化了操作流程向导，易于学习，可根据工作需要定 制操作界面。

新颖的样品室内3D空间位置和移动轨迹模拟 功能，可避免误操作，造成碰撞。

新型Orage™镰离子FIB镜筒

创新的OrageTM Ga F旧镜筒配有良好的离 子光学系统和顚设计的OptiGISTM气体注入系统， 束流可达100 nA,具有超快速加工能力，新颖的 SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升一倍。

AMBER离子能鱼低可达500 eV,拥有更优 秀的低压样品制备能力，可以快速制备无损超薄 TEM样品。系统还可以配置多种扩展分析附件，并 实现与Raman、TOF-SIMS —体化。

•  SEM 分辨率：0.9nm@ 15kV

•  F旧分辨率：＜2.5nm@30kV

•  可选择不同角度和不同能量收集电子信号， 获得更好的表面灵敏度和对比度

•  静电-电磁混合物镜，无外泄磁场，更适合 对磁性样品的观察和分析

•  光阑孔径达30个，由压电陶瓷驱动器控制， 全面提升束流强度和精度

•  配置大型样品室，有超过20个扩展接口， 为原位观测和分析创造了良好的工作环境

1.乳胶珠，50V成像。

2.锂电池负极上制备出的50 pm长度的截面。

3.未喷镀的霉菌，800 V成像。

4.小鼠舌的表面形貌，2 kV, Cryo-SEM0。