HORIBA堀场X射线荧光有害元素分析仪

HORIBA XGT-1000WR主要技术指标：

              1、 分析元素：Si～UCd/Pb高精度型；Na～U选择：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型

              2、 检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3、 检测仓内部尺寸：不超过460×360 mm高150 mm

              4、X射线照射径：φ1.2 mm可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换

              5、 检测器：高纯硅检测器 XEROPHY

              6、 设备重量：约 265 kg不含桌子、计算机

              7、 外形尺寸：分析部分：610W×750D×500Hmm 

       8、 信号处理部：220W×500D×480Hmm 

       9、可同时测量4层金属镀层的厚度。

                    HORIBA在能量色散XRF方面的XGT技术实现了微小面积、高X射线能量聚焦测量，确保了微区测量、快速测量、高精度测量。