HORIBA X射线荧光光谱仪

XGT-1000WR荧光光谱仪主要技术指标：

              1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型）

              2、 检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3、 检测仓内部尺寸：不超过460×360 mm（高150 mm）

              4、X射线照射径：φ1.2 mm（可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换）

              5、 检测器：高纯硅检测器 XEROPHY

              6、 设备重量：约 265 kg（不含桌子、计算机）

              7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm 

       8、 信号处理部：220（W）×500（D）×480（H）mm 

       9、可同时测量4层金属镀层的厚度。

                    HORIBA在能量色散XRF方面的XGT（X射线导向管聚焦）技术实现了微小面积、高X射线能量聚焦测量，确保了微区测量、快速测量、高精度测量。HORIBA XGT1000WR便是一款经典机型。