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ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置
在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上，Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术，可将X射线聚集成10µm射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描，也可对样品的内部结构透视扫描，甚至还可以实现元素扫描.
应用
PCB基板的扫描为例 |
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电子组件内部的异物、故障解析为例 | |
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| XGT-5700WR系列 |
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X线照射径 | Ø3mm标准 |
一次X线滤膜 | Ø3mm照射径:4种自动切换 |
二次X线滤膜 | 用于金属中有害元素高灵敏度测定的标准装备 |
X线检测器 | 液体氮气冷却3L |
高纯度Si检测器 | |
样品形状 | 不超过350×400×40mm |
样品载台 | 扫描范围：100×100mm､ 200×200mm（可选） |
