YOKOGAWA/日本横河 品牌
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GE通用电气 DS200DTBCG1AAA 终端板 模块
¥1999GE通用电气 DS200TBCBG1AAA 管理继电器模块
¥2999GE通用电气 IC698CPE020 CPU处理器 模块
¥1999GE通用电气 F35 管理继电器模块
¥2999GE通用电气 IC200CMM020 输出 模块
¥1999GE通用电气 IC200ALG620 模拟输入模块
¥2999GE通用电气 IC200CHS022 输出 模块
¥1999GE通用电气 IC200CHS001 模拟输入模块
¥2999GE通用电气 IC200ALG321输出 模块
¥1999GE通用电气 UR8HH 模拟输入模块
¥2999IS200AEPAH1 BHC/IS215WEPAH2BA 输出 模块
¥1999GE通用电气 V7768-320000 能源主板模块
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PW402 压力传感器 模块
水平求和寄存器饱和电平。在大多数情况下,这不会提供
最佳性能。
高增益:
ADC饱和(e-
)=0.99 e-
每个ADC计数*65536
=64.88ke低增益:
ADC饱和(e-
)=2.97 e-
每个ADC计数*65536
=194.64ke执行噪声计算时,对整个相机的噪声的三个贡献是
考虑过的:
-CCD读出噪声
电子学
-暗电流产生的散粒噪声
就ADC计数而言,CCD片上放大器引起的理论读出噪声水平为
使用以下方程式计算:
读出噪声电平(计数rms)=读出噪声电平/ADC输入分辨率
高增益:
读出噪声电平(计数rms)=14.0 uV rms/每个ADC计数3.47 uV
=4.03 ADC计数rms
低增益:
读出噪声电平(计数rms)=14.0 uV rms/10.42 uV每个ADC计数
=1.34 ADC计数rms
短曝光(即无暗电流)在高增益下测得的总均方根噪声电平为11
ADC计数rms。根据该结果,可以如下计算由电子器件引起的噪声:
电子噪声=10.23 ADC计数rms
暗电流引起的散粒噪声近似为电子数量的平方根
检测。检测到的电子数量是CCD温度以及
暴露时间。假设0ºC下的暗电流为10e-
/像素/s,持续10秒
曝光时间,累积的电子数将为100e-
.
通常,CCD在正常工作期间的温度会冷却到-10ºC左右
-10ºC下的暗电流约为1e-
/pixel/s。暗电流过大导致的散粒噪声水平
然后可以计算10秒。
PW402 压力传感器 模块
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