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PW401 S2 压力传感器 模块
在装仓操作期间,散粒噪声不会与信号成比例地增加。对于
例如,在25ºC、曝光时间为1秒的条件下,散粒噪声rms为√100 e-
/s=10项。
如果128行被装箱,erms中的散粒噪声为:
Binned Shot Noise=√(128*100 e)=113 erms
上述正确计算值明显低于有时错误计算的值
像
Binned Shot Noise=128*10 erms=1280 erms
这种计算不考虑RMS信号必须以平方根的方式相加。
这三种噪声源的作用不同,具体取决于应用程序。
对于短曝光(甚至几秒钟),暗电流的散粒噪声应为
明显低于信号电平。然而,如果信号电平非常低,则读出噪声(总和
固有的CCD读出噪声和电子噪声)可能是不良图像的来源。
较长的曝光通常将非常迅速地提高信号与读出噪声的比率。对于每个
曝光时间加倍,信号与读出噪声比将提高1.5dB。因为
只有当数据从CCD中读出时,才会增加读出噪声,从而将电荷装入CCD中
是减少读出噪声影响的非常有效的方法。数量每增加一倍
线装仓后,所得数据的SNR将提高约3dB。
由于散粒噪声随着信号(暗电流或实际信号)的平方根而增加,
尽管暗电流增加,但更长的曝光时间将产生更好的信噪比。
暗电流表示固定模式噪声,并且主要是确定性的。的减法
给定曝光设置下的平均暗电流可以去除非常重要的物质来源
似乎是噪音。此过程只留下暗电流的散粒噪声,即散粒
所述信号的噪声以及所述图像中的组合的读出噪声。
在高增益设置下,相机中的电子噪声 因为
在可编程增益级之后引入输出。通过增加增益,电子设备
与固有CCD读出相比,噪声在总噪声中所占比例较小
噪音
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