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MICRO LED晶圆级综合检测系统
MICRO LED晶圆级综合检测系统明场/PL检测类型：明场缺陷分析、电极缺陷分析、PL缺陷分析。 参考价面议 -
钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统
钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统检测时间＜10 min（10 cm*10cm） 空间分辨率20 μm/100μm。 参考价面议 -
SiC晶圆质量成像检测系统
碳化硅成像检测,SiC晶圆质量成像检测系统：晶圆衬底质量（载流子寿命）高速成像，快速筛查外延片晶格质量。 参考价面议 -
碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统
碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统：最高检测速度：＜17 min/片（6“）；BPD、TSD、TED分类识别。 参考价面议 -
高能高频DPSS连续可调谐纳秒激光器
高能高频DPSS连续可调谐纳秒激光器以其高能量输出、高频重复率、波长可 调谐性、光束质量好、可靠性高、易于集成和环保节能等特点，成为许多领域中的理想选择。 参考价面议 -
大能量DPSS Nd:YAG纳秒脉冲激光器
大能量激光器,纳秒激光器,激光器品牌,大能量DPSS Nd:YAG纳秒脉冲激光器是二极管泵浦Nd:YAG纳秒脉冲激光器，具有输出能量高、频率高、光斑质量好、智能化高、结构 紧凑、易维护等特点；该系列激光器采用高斯腔，可以输出平顶（flat-top）光，满足工业以及科研的需求。 参考价面议 -
高速探测器
高速线阵CMOS探测,高速探测器类型：宽谱响应高速近红外探测器、宽谱响应高速可见探测器、高灵敏高速可见探测器等。 参考价面议 -
非线性SHG测试系统-SHG100
非线性SHG测试系统-SHG100电控位移台：行程范围 20x20mm。支持同步触发扫描，用于SHG成像。 参考价面议 -
Z扫描测试系统-ZTS100
Z扫描测试系统-ZTS100抖动消除：参比双通道信号同时采集；功率检测范围：50 nW-40 mW。 参考价面议 -
超快荧光光谱系统-UF100
超快荧光,荧光光谱仪,超快荧光光谱系统-UF100软件：数据采集/分析软件，微区检测模块：空间分辨率≤500nm。 参考价面议 -
多功能激光扫描共聚焦荧光成像系统-FLIM300
多功能激光扫描共聚焦荧光成像系统-FLIM300荧光强度、寿命成像、载流子迁移成像、荧光/拉曼光谱采集、光电流成像、电致发光成像。 参考价面议 -
深紫外荧光系统
深紫外荧光系统成像功能：荧光强度或光谱成像/荧光寿命成像/深紫外成像；激发波长：206 nm/257 nm/343 nm/515 nm。 参考价面议