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日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜
¥17589日立电子显微镜聚光镜球差电镜
¥16857日立球差校正扫描透射电子显微镜
¥15876日立高反差型透射电子显微镜
¥15985日立台式扫描电子显微镜 维翰光电
¥15975HITACHI日立扫描电子显微镜 维翰光电
¥16858日立冷场电镜超高分辨率冷场发射电子显微镜
¥15679日立发射扫描电子显微镜 进口超高分辨电镜
¥15697日立Hitachi日立新型冷场扫描电子显微镜
¥15876日立电子显微镜高分辨大样品仓电镜
¥15875日立 通用型原子力显微镜
¥13548日本日立5500M全自动型原子力显微镜
¥26984日立原子吸收分光光度计 偏振塞曼背景校正
日立原子吸收分光光度计 偏振塞曼背景校正
ZA3000系列是应广大用户需求研发的新型元素分析仪,秉承日立的偏振塞曼背景校正技术,新开发了其他同类产品所没有的多种技术,性能更,可获得更高的灵敏度和更优的准确度。
日立偏振塞曼原子吸收分光光度计,创新永无止境!
ZA3300系列是一款新型火焰原子吸收分光光度计,在确保基本性能(例如:高精度和高灵敏度)的前提下,采用其他原子吸收分光光度计无法实现的技术,提升其性能和可靠性。
火焰原子吸收分光光度计
ZA3300
塞曼背景校正(190-900nm),
开机即可测样
提高火焰操作的安全性和便利性
软件语音系统提示,全程序实时监控
特点:
基本性能提升
190nm~900nm全谱采用塞曼背景校正技术,可扣除所有背景干扰(包含结构背景)
全时双光束技术,样品信号和参比信号同时检测,可获得稳定基线(±0.0004Abs)
操作简便可靠
“提升的基本性能”和“新增功能”的实现是基于日立原子吸收分光光度计的直流偏振塞曼校正技术。
所有元素都可实现高可靠性的背景校正,用户可通过软件实现相应分析。
分析实例:
火焰法分析糙米中的镉
偏振塞曼校正法的基线稳定性高,即使当糙米中的镉浓度低于0.4 ppm时,也可以采用火焰分析法。