FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测厚仪概述：

        X 射线荧光测试仪，带有可编程的 X/Y平台和Z轴，可自动测量镀层厚度和分析材料组分

FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测厚仪特点：

• 配备了半导体探测器，由于有更好的信噪比，能更精确地进行元素分析和薄镀层测量
• 使用微聚焦管可以测量较小的测量点，但因为其信号量较低，不适合测量十分细小的结构  
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 有弹出功能的快速、可编程XY平台

典型应用领域：

• 镀层和合金的材料分析（还适用于薄镀层和低含量成分）
• 来料检验，生产监控
• 研究和开发
• 电子工业
• 接插件和触点
• 黄金、珠宝和钟表工业
• 可以测量数纳米薄的镀层，如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
• 痕量元素分析
• 在有“高可靠性”要求的应用中确定铅（Pb）含量
• 硬质镀层分析  

　　X射线测厚仪原理

　　XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

　　X射线测厚仪适用范围

　　XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

　　菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。