德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统，用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析

FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统特点

• 法兰测量头，用于在生产线中进行连续测量
• X射线探测器可以为比例计数管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
• 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
• 可在真空或大气中使用
• 可以在高达 500° C 的高温基材上进行测量
• 坚固和耐用是设计的重心 

FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统典型应用领域

• 光伏技术（CIGS，CIS，CdTe）
• 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
• 连续生产线
• 喷射和电镀生产线监测
• 测量大面积样品

X射线测厚仪原理

　　XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

　　X射线测厚仪适用范围

　　XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

　　菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。