菲希尔FISCHERSCOPE XDV-μ镀层厚度测量仪

        X 射线荧光测试仪，配有多毛细孔 X 射线光学系统，可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。

FISCHERSCOPE XDV-u镀层厚度测量仪特点

• 优化的微区分析测试仪器
• 根据X射线光学系统，可以对100 μm或更小的结构进行分析
• *的能量强度，从而实现出色的精度
• 即使对于薄镀层，测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm
• 只适用于平面的或是接近平面的样品
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 通过快速、可编程的 XY 工作台进行自动测量

FISCHER XDV-u镀层厚度测量仪典型应用领域

• 测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统
• 测量细小部件和细电线上的镀层系统
• 分析微小结构和微小部件的材料成分

X射线测厚仪原理

　　XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

　　X射线测厚仪适用范围

　　XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

　　菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。