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台式PID(Potential Induced Degradation)

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应用领域:医疗卫生,环保,食品,化工
束蕴仪器(上海)有限公司

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束蕴仪器(上海)有限公司自成立以来,凭借与德国布鲁克(BRUKER)、衍射数据中心(ICDD)、德国Freiberg等实验室分析仪器品牌的战略合作,迅速成为业界仪器供应商。

我们拥有一支积极乐观,正直诚信的年轻团队,我们热忱的信仰科学,相信科学技术能为我们的客户带来高品质的生活,为社会的进步起到积极的促进作用。

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 单位名称:束蕴仪器(上海)有限公司

详细地址:上海市松江区千帆路288弄G60科创云廊3号楼602室

 

 

 

 

 

详细信息

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

    易ID和抗PID的太阳能电池          重现性

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

标准:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度

 

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产品参数

应用领域 医疗卫生,环保,食品,化工

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一套 1元 1 件 可售
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