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穆勒矩阵测量系统

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参数
产地类别:进口 应用领域:医疗卫生,生物产业,能源,电子,交通
北京昊然伟业光电科技有限公司

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测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
北京昊然伟业光电科技有限公司成立于 2010 年,专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括:
光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等;
激光检测产品:激光功率计、能量计及光束质量分析仪等;
                         集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等
                         显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。
                         值得一提的是,近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。

详细信息

  在同一台仪器中采用四个光弹性调制器(PEM),150XT Mueller偏振计可以在短时间内同时测量十六个穆勒r矩阵元素和样品的完整偏振特性。 Hinds 仪器公司产品系列的这一新增功能可应用于学术和工业研究、光学元件特性、制造和质量控制。 承包系统在各种光学、化学和生物化学样品中绘制出线性延迟、圆形延迟(或旋光)、线性二次衰减和圆形二次衰减。
  灵敏度和重复性
  使用Hinds仪器公司的PEM技术,该系统为一个完整的穆勒偏振计提供了高灵敏度。此外,PEM提供高速操作,以几十千赫的速率调制。灵敏度和重复性可轻松提供亚纳米水平的线性和圆形双折射测量结果,以及线性和圆形二次衰减的亚百分比测定,这对于许多应用很重要。
  精心设计,操作简单,直观
  一个大至6“x 6”(150mm x 150mm;更大尺寸可选)的样品可以手动或自动绘制并以图形方式显示。 一旦将样本放置在翻译阶段,直观的软件就可以指导操作员完成步骤测量过程。 用户界面软件可计算线性延迟值、圆形延迟值、线性衰减值和圆形衰减值,并以各种格式显示它们。 该软件还提供文件管理和校准功能。 在可选模式中,样本可以相对测量光束倾斜,而不是在XY 平台移动,使用自动旋转器或旋转器生成产所有十六个Mueller矩阵元素的角映射和样本的所有偏振属性。
  Mueller偏振计测量了通过正在研究的光学样品的光学路径集成的偏振特性。一束氦氖激光光束被偏振化,然后由前两个脉冲编码调制。调制光束通过样品传输,然后通过另外两个PEM的组合,一个分析器和一个光电探测器。电子信号是通过傅立叶分析捕获的波形(锁定选项可用于更低级别的信号检测)来处理的。一种由纽约大学和Hinds仪器合作开发的软件算法,将电子模块中的信号电平转换成16个Mueller矩阵元素和样品的特性,当在自动映射模式下工作时,x-y平移阶段将样本移动到下一个预定的测量位置。结果以用户需求的格式即时显示。 
  穆勒矩阵测量系统主要特点:
  在全Mueller偏振计中具有高灵敏度
  同时测量所有十六个Mueller矩阵元素
  同时测量完整的偏振特性
  准确重复性
  高速测量
  光学系统中无移动部件
  可变尺寸光学元件的自动映射
  光弹调制器技术
  简单、便于用户使用的操作  

  穆勒矩阵测量系统应用:

  学术和工业研究
  质量控制计量
  测量完整的偏振特性
  具有复杂内部结构的光学元件
  激光晶体
  具有复杂图层的液晶显示器
  非晶态晶体
  各向异性晶体
  化学和生物各向异性光学材料
  由电场或磁场引起的各向异性



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